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    雙劍合璧,矢量網絡分析儀+頻譜分析功能

    On: 2015-06-27 By: 研測電子

    是德科技公司日前宣布推出新的功能選件,旨在為 PNA 和 PNA-X 系列微波矢量網絡分析儀(VNA)添加高性能頻譜分析儀功能。作為業界首創,此功能選件可以將測試速度加快 10 到 500 倍。VNA 綜合此功能后,即可在表征衛星設備、國防電子器件和商用無線器件中的 S 參數、壓縮和失真之余,還執行高速雜散測量,從而簡化系統連接,節省測量時間。   工程師在執行雜散測量時通常需要耗費大量時間,同時還面臨著測試時間與測試范圍之間的折中。利用新的高性能頻譜分析儀功能,Keysight PNA 可以在寬廣的頻率范圍內執行快速雜散搜索,測試吞吐量相比現有測量方法提升 500 倍。測量結果可以與當前最快、最復雜的獨立頻譜或信號分析儀相提并論。   VNA 還能夠在所有測試端口上同時實施頻譜測量。這種獨一無二、業界領先的功能使分析儀只需連接一次便可表征混頻器、轉換器、放大器、模塊或子系統,從而縮短設計周期。例如 LO、RF 和 IF 饋通測量;諧波測量;互調產物測量;以及其他高階混頻產物測量。   夾具中和晶圓上測量也可以從 VNA 校準和去嵌入(校正接收機響應誤差,消除電纜和夾具影響)中受益――測試精度將會明顯改善,從而實現更小的測試容限和更苛刻的器件技術指標。   是德科技元器件測試事業部 PNA 市場經理 Steven Scheppelmann 表示:“在同一臺儀器中執行高性能頻譜和網絡測量,可以為您提供無與倫比的洞察力來了解被測器件的特性。此創新還可以取代開關矩陣和獨立的頻譜分析儀,進而滿足日益重要的、減小元器件表征測試系統體積的需求。”   每一臺 Keysight VNA 都充分體現了是德科技在線性和非線性器件表征方面的專業水平。當您在研發實驗室中和生產線上執行設計和測量時,PNA 系列的卓越性能能夠為您帶來前所未有的幫助。 表示:“在同一臺儀器中執行高性能頻譜和網絡測量,可以為您提供無與倫比的洞察力來了解被測器件的特性。此創新還可以取代開關矩陣和獨立的頻譜分析儀,進而滿足日益重要的、減小元器件表征測試系統體積的需求。”

    每一臺 Keysight VNA 都充分體現了在線性和非線性器件表征方面的專業水平。當您在研發實驗室中和生產線上執行設計和測量時,PNA 系列的卓越性能能夠為您帶來前所未有的幫助。


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